Microscope électronique à balayage à canon à effet de champ

Jeol JSM 7600F

Le JEOL JSM7600F est un microscope électronique à balayage équipé d'un canon à effet de champ.
    Principales caractéristiques:
  • Résolution de 1.0 nm à 15 kV
  • Résolution de 1.4 nm à 1 kV
  • Tension d'accélération de 0.1 kV à 30 kV
  • Canon électronique à effet de champ (FEG) pouvant atteindre de très hauts courants (>200 nA)
  • Possibilité d'appliquer une tension à l'échantillon afin de réduire l'énergie des électrons incidents (mode "Gentle Beam")
  • Réduit les effets de charge sur les échantillons non-conducteurs
  • Réduit également la contamination de surface (effet carré noir)
  • Équipé d'un détecteur d'électrons secondaire pouvant filtrer l'énergie des électrons collectés
  • Équipé d'un détecteur conventionnel d'électrons rétrodiffusés ainsi que d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés à faible angle (LABE : Low Angle Backscattered Electrons)

Nanotubes de carbone
Nanotubes de carbone
Échantillon polymérique
Échantillon polymérique observé à 0.1 kV
Principales applications:
  • Observation d'échantillons nanométriques (nanotubes de carbone, nanoparticules, nanoprécipités, graphène etc.)
  • Observation d'échantillons non-conducteurs (polymères, papier etc.)
  • Observation en électrons rétrodiffusés (contraste chimique) à haute résolution spatiale
  • Observation de surfaces polies et accidentées;
  • Obtention d'images stéréoscopiques (3D)